Procédé pour une surcroissance de couche épitaxiale
2012
De l'oxygene, du silicium, du germanium, du carbone ou de l'azote est selectivement implante dans une piece a travailler. La piece a travailler est recuite pour incorporer les ions dans la piece a travailler. Un semi-conducteur composite est ensuite forme sur la piece a travailler. Par exemple, du nitrure de gallium peut etre forme sur une piece a travailler en silicium, en carbure de silicium ou en saphir. La largeur des regions implantees peut etre configuree pour compenser tout retrecissement durant le recuit.
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