Influence de l'état de la surface sur les propriétés optiques de couches minces de silicium amorphe hydrogéné déposées par «glow discharge»

Resume Des mesures de pouvoir reflecteur diffuse et speculaire et de la transmission dans le domaine d'energie compris entre 0,5 et 5,5 eV ont ete effectuees sur des couches minces de silicium amorphe hydrogene recuites separement a des temperatures comprises entre 20 et 600°C. Au-dessus de 2eV ces mesures indiquent l'existence de lumiere diffusee plus ou moins importante selon les echantillons etudies. On doit tenir compte de cette diffusion due a la rugosite de la surface aussi bien pour comparer les variations de l'indice de refraction statique avec la temperature de recuit T r ou de mesure T m que pour appliquer la relation de Bahl et Baghat.