Análise da topografia de implantes TI-CP com superfície usinada e modificada por laser

As modificacoes realizadas na morfologia, nas propriedades quimicas, fisico-quimicas da superficie do implante e a sua influencia sobre o processo de osseointegracao tem sido o objetivo de muitos estudos ao longo dos ultimos anos. O objetivo deste estudo foi caracterizar implantes osseointegraveis (Ti-cp) com superficie usinada (SU), superficie modificada por laser (SL) e superficie modificada por laser seguido da deposicao de silicato de sodio (SS). Para tal foi realizado a caracterizacao topografica por meio da microscopia eletronica de varredura, espectrometria de energia dispersiva MEV-EDX. Obtiveram-se tambem medidas de rugosidade media, medidas de rugosidade em seccao transversal, ângulo de contato, difratometria de raios X - DRX e perfilometria optica confocal laser das tres superficies. Os dados obtidos pela analise de rugosidade (rugosidade media) foram levados a analise de variância e ao teste t de Tukey. O MEV de SU mostrou superficie lisa, contaminadas com de restos de usinagem, enquanto SL e SS produziram superficies rugosas com padrao morfologico mais regular e homogeneo. A analise por EDX nao revelou qualquer contaminacao das superficies analisadas, e mostrou picos de Ti para SU e Ti e oxigenio para SL e SS. Os valores de rugosidade media de SL e SS foram estatisticamente maiores (p <0,05) quando comparados com SU. Os valores da rugosidade em seccao transversal foram 21,76 ± 9,05 μm e 28,75 ± 10,12 μm respectivamente para SL e SS. O ângulo de contato de SL e SS foi 0o, permitindo alta molhabilidade. O DRX de SU mostrou apenas picos de Ti, enquanto SL e SS mostraram a presenca de oxidos e nitretos. Nos implantes SS a DRX mostrou tambem a presenca de silicato de sodio. Diante dos resultados obtidos conclui-se que as texturizacoes realizadas nos implantes SL e SS promoveram importantes modificacoes na topografia e nas propriedades fisico-quimicas das superficies analisadas. Descritores: Microscopia Eletronica de Varredura; Implantes Dentarios; Topografia.