Propuesta metodológica para caracterizar las áreas expuestas a riesgos tecnológicos mediante SIG. Aplicación en la Comunidad de Madrid

En la cartografia de riesgos existen dos componentes de caracter espacial: la definicion y caracterizacion de las areas expuestas, por una parte y, por otra, el analisis de la vulnerabilidad de la poblacion y el territorio. En este articulo, la atencion se centra exclusivamente en el primer componente, la exposicion. Se plantea un procedimiento sencillo para establecer las zonas potencialmente expuestas a riesgos tecnologicos en el territorio. Se utilizan para ello las funciones de calculo de distancias de un SIG, lo que permite determinar tres variables: zonas expuestas a algun riesgo, la intensidad de la exposicion a riesgos en cada punto y la “probabilidad espacial” de ser afectado por un algun peligro de tipo tecnologico en la Comunidad de Madrid (Espana).