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アンクランプ誘導スイッチングのもとでのパンチスルーIGBTの破壊現象の数値的研究【Powered by NICT】
アンクランプ誘導スイッチングのもとでのパンチスルーIGBTの破壊現象の数値的研究【Powered by NICT】
2016
T. Tamaki
Y Yabuuchi
Masato Izumi
Norio Yasuhara
Kazutoshi Nakamura
Keywords:
Electronic engineering
Computer engineering
Engineering
Systems engineering
Reliability engineering
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