Temperaturstabilisierte Halbleiter-Lichtemissionsvorrichtung

Die Erfindung betrifft eine temperaturstabilisierte Halbleiter-Lichtemissionsvorrichtung, insbesondere eine VCSEL-Diode, wobei die Temperaturerfassung eine Messung des elektrischen Widerstands des aktiven Bereichs der lichtemittierenden VCSEL-Diode oder einer neben der eigentlichen lichtemittierenden VCSEL-Diode vorgesehenen Dummy-VCSEL-Diode umfast.