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7nmノードでのナノワイヤFETの単一界面トラップによる性能と変動【Powered by NICT】
7nmノードでのナノワイヤFETの単一界面トラップによる性能と変動【Powered by NICT】
2017
Yoon Jun-Sik
Kim KiHyun
Rim Taiuk
Baek Chang-Ki
Keywords:
Aerospace engineering
Physics
Electronic engineering
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