Стехиометрия, фазовый состав и свойства сверхтвердых наноструктурных пленок Ti−Hf−Si−N, полученные с помощью вакуумно-дугового источника в высокочастотном разряде
2011
- Correction
- Source
- Cite
- Save
- Machine Reading By IdeaReader
0
References
0
Citations
NaN
KQI