Dispositif de mesure de caractéristique optique

La presente invention concerne un dispositif qui mesure la caracteristique optique d'un objet a mesurer et permet de mesurer la reflectance hemispherique totale, la transmittance hemispherique totale et la distribution de lumiere. Le dispositif de la presente invention permet en outre une reduction du temps de mesure et une amelioration de la precision de l'analyse quantitative de reflectance hemispherique totale (transmittance). Il emploie un systeme optique bi-elliptique qui possede trois foyers sur un axe en joignant deux miroirs ellipsoidaux avec l'un des foyers de chacun des miroirs ellipsoidaux comme foyer commun, et qui est configure a partir d'un miroir spheroidal partiel (un quart, par exemple) (2) et d'un miroir spheroidal en forme de courroie (1). En installant un systeme optique de detection de surface hemispherique dote d'une lentille hemispherique (4) ou d'un miroir parabolique rotatif a la position du foyer du miroir spheroidal partiel, la lumiere dispersee par un objet a mesurer, reflechie par la surface du miroir spheroidal partiel et concentree au niveau du foyer est photographiee par une camera CCD (6), par exemple via la lentille hemispherique et une fibre optique conique (5) pour mesurer la caracteristique optique de l'objet a mesurer.