Şebeke Gerilimindeki Azalmaların Tüketici Elektroniği Ürünlerinin Güvenilirliğine Etkisinin Belirlenmesi / Determining Effect of the Reductions in Mains Voltage on Reliabilty of the Consumer Electronics Products

2017 
Tuketici elektronigi urunleri bir dizi testlerden gecirilerek son kullanicinin hizmetine sunulmaktadir. Test altindaki urunlerin, gerek uluslararasi standartlar gerekse ozel musteri talepleri ile belirlenen test kriterlerini saglamasi gerekmektedir. Bu amacla gerceklestirilen tum testlerin ortak amaci, musteriye sunulacak urunun guvenilirliginin olabildigince yuksek, saha donusu ve maliyetlerinin mumkun oldugunca dusuk olmasidir. Bu islemler, firmaya kalite ve musteri memnuniyeti basta olmak uzere bir dizi faydalar saglamaktadir. Urun guvenilirligi, bir urunun belirli zaman araligi icinde, belirlenen cevre kosullari altinda, kendisinden beklenen fonksiyonlari dogru bir sekilde yerine getirebilme olasiligidir. Yetersiz guvenilirlik analizinin yapilmasi ya da hic yapilmamasi zaman ve para kaybinin yaninda sayginlik kaybina da neden olmaktadir. Tuketici elektroniginde guvenilirligin arrtirilmasi amaciyla gerceklestirilen guvenilirlik onay testlerinin en onemlilerinden biri suphesiz ki gerilim azalma testidir. Bu test, sebeke gerilimindeki azalmalari gercek zamanli olusturarak test altindaki urune uygulayan oldukca onemli bir testtir. Testin sonucunda sebeke gerilimindeki olasi azalma durumunda, soz konusu urunun elektriksel dayanimi belirlenmektedir. Boylece olasi onlemlerin henuz urun sahaya cikmadan belirlenmesi ve problemlerin giderilmesiyle, guvenilirligi arttirilmis urunlerin elde edilmesi saglanir. Ayrica, tasarim sonrasi maliyetler de boylelikle azaltilmis olacaktir. Bu calismada; sebeke geriliminde olusacak azalmanin tuketici elektronigi urunleri uzerinde olusturacagi hata durumu, bu hata durumu uyarinca belirlenen guvenilirlik kriterleri ornek bir uygulama yardimiyla aciklanmaktadir. Deneysel calisma olarak led surucu devresi ele alinmistir.
    • Correction
    • Source
    • Cite
    • Save
    • Machine Reading By IdeaReader
    0
    References
    0
    Citations
    NaN
    KQI
    []