3 Dimension measuring apparatus and the three-dimensional size measurement method

【要約】 【課題】本発明の目的は、外部から直接計測できない内部構造を有する計測対象物の３次元寸法を、Ｘ線ＣＴ撮像装置を利用してボクセル幅以下の分解能で高速に計測できる３次元寸法計測装置及び３次元寸法計測方法を提供することにある。 【解決手段】本発明による３次元寸法計測装置は、計測対象物の３次元ビットマップデータを取得するＸ線ＣＴ 撮像装置と、前記３次元ビットマップデータに対応する画像を表示する表示装置と、前記画像に計測プローブの走査経路を定義する計測条件定義手段と、前記３次元ビットマップデータ上で前記走査経路に対応する経路に沿って計測プローブを走査して前記計測対象物の寸法を計測する計測手段とを備える。