イオン付着質量分析装置（ｉａｍｓ）を用いた不分離ピークの定量方法

【課題】ＧＣ×ＧＣ分析方法における装置の複雑さやその操作によるメンテナンス性の欠如、更には検出器に使用されることの多いＴＯＦＭＳのダイナミックレンジの狭く、且つ大型、高価である点、又その解析はデコンボリューションソフトの使用による難点等を解消し、クロマトグラム上の不分離ピークを超えたピークの分離測定を簡単にコスト廉価に行える。 【解決手段】クロマトグラフに質量分析装置を接続した分析装置を使用する方法で、一のクロマトグラム上で分離可能なピーク数を超えたピークをイオンマススペクトル化し、又マスナンバー（ｍ／ｚ）の強度により成分分離する。 【選択図】図４