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Revetements nanometriques deposes par epitaxie en couches atomiques sur des materiaux en poudre pour outils de coupe
Revetements nanometriques deposes par epitaxie en couches atomiques sur des materiaux en poudre pour outils de coupe
2007
Guo-Dong Zhan
Youhe Zhang
Feng Yu
J. Daniel Belnap
Yuelin Shen
Madapusi K Keshavan
Xian Yao
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