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SiGeチャネルCMOS 絶縁破壊とBias温度不安定性トレードオフの理解【JST・京大機械翻訳】
SiGeチャネルCMOS 絶縁破壊とBias温度不安定性トレードオフの理解【JST・京大機械翻訳】
2019
R. G. Southwick
M. Wang
S. Mochizuki
Xin Miao
Jinghong Li
Lee ChoongHyun
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