Génération de second harmonique pour la nano-optique et la microscopie optique en champ proche

Ce travail a permis de caracteriser certaines proprietes de la generation de second harmonique dans le domaine de l'optique en champ proche grâce aux methodes numeriques implementes durant cette periode : la methode perturbative de Rayleigh (MPR) et la methode des differences finies dans le domaine temporel (FDTD). Dans un premier temps, les sources du second harmonique optique ont ete explicitees en fonction des differents types de symetries cristallines. Ensuite, la demarche pour adapter les deux methodes numeriques (FDTD et MPR) a l'optique non linaire a ete exposee precisement. Des tests sur les deux methodes numeriques ont ete effectues pour deux grands types de materiaux~: les matriaux centrosymetriques et non centrosymetriques. Puis, les modelisations de differentes experiences pour les deux types de materiaux ont ete mises en oeuvre : reseaux de plots, pointes metalliques utilisees pour les microscopes optiques en champ proche sans ouverture... Le resultat dominant de ce travail est le fort confinement du second harmonique autour de l'objet le generant. La generation de second harmonique a l'apex d'une pointe metallique permet d'obtenir une source extremement localisee.