Procédé d’analyse d’échantillon

La composition, la propriete physique, la masse, et la taille d’un echantillon minute ou d’une petite quantite d’echantillon sont mesurees avec precision par l’application d’une onde terahertz a celui-ci ou a celle-ci. La presente invention a pour objet un procede d’analyse d’echantillon pour l’analyse d’un echantillon (12) ayant une permeabilite a l’onde terahertz. Un element de reflexion (11) est prevu en contact avec une premiere surface principale de l’echantillon (12), un element d’incidence (13) est prevu en contact avec une seconde surface principale de l’echantillon (12), l’onde terahertz est appliquee a l’echantillon (12) depuis l’exterieur de l’element d’incidence (13), et l’echantillon (12) est analyse au moyen d’une onde d’interference produite par une premiere onde de reflexion plane sur une interface entre la premiere surface principale de l’echantillon (12) et l’element de reflexion (11) et une seconde onde de reflexion plane sur une interface entre la seconde surface principale de l’echantillon (12) et l’element d’incidence (13).