新規なエステル化合物、高分子化合物、レジスト材料、及びパターン形成方法

1999 
(57)【要約】 【解決手段】 下記一般式(1)で示されるエステル化 合物。 【化1】 (式中、R 1 はH、CH 3 又はCH 2 CO 2 R 14 、R 2 は H、CH 3 又はCO 2 R 14 、R 3 はC 1 〜C 8 のアルキル基 又はC 6 〜C 20 の置換されていてもよいアリール基、R 4 〜R 13 はH又はC 1 〜C 15 のヘテロ原子を含んでもよい 1価の炭化水素基を示し、互いに環を形成していても い。R 4 〜R 13 は隣接する炭素に結合するもの同士で何 も介さずに結合し、二重結合を形成してもよい。R 14 は C 1 〜C 15 のアルキル基を示す。kは0又は1である。 また、本式により、鏡像体も表す。) 【効果】 本発明のエステル化合物から得られる高分子 化合物をベース樹脂としたレジスト材料は、高エネルギ ー線に感応し、感度、解像性、エッチング耐性に優れて いるため、電子線や遠紫外線による微細加工に有用であ り、特にArFエキシマレーザー、KrFエキシマレー ザーの露光波長での吸収が小さいため、微細でしかも基 板に対して垂直なパターンを容易に形成することができ る。
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