Analysis Method that affects circuit fault simulation-based fault tolerance

2013 
本发明是一种基于仿真的容错电路故障影响分析方法,其步骤如下:1.外围正常电路建模。 2.元器件故障模式集总结。 3.外围模拟电路故障建模。 4.外围模拟电路故障注入。 5.芯片接口故障模式和软件错误类型总结。 6.对数字芯片输入故障进行逻辑描述。 7.观察和分析电路模块的故障影响。 它能够有效缩短系统设计周期、节省设计费用,大大提高了系统的可靠性,它利用仿真故障注入的方法,能够更方便地实现对容错系统故障模式和故障影响的合理判定。
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