A scanning tunneling microscopy study of polycrystalline lead phthalocyanine thin films

The surface microstructures of lead phthalocyanine thin films are resolved by scanning tunneling microscopy (STM) in air. The data are compared with scanning electron microscopy (SEM) and infrared (IR) spectroscopy data. STM images show a substructure for the thicker (≈ 550 nm) lead phthalocyanine films. Mittels der Raster-Tunnel-Mikroskopie wird die Oberflachenmikrostruktur von Bleiphthalocyaninschichten an Luft untersucht. Die Ergebnisse werden mit Daten der Raster-Elektronen-Mikroskopie sowie der Infrarotspektroskopie verglichen. Bei den dickeren (≈ 550 nm) Bleiphthalocyanindunnschichten kann eine Uberstruktur mittels der Raster-Tunnel-Mikroskopie aufgelost werden.