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Charakterisierung von supraleitenden Josephson-Cantilevern für Messungen im THz-Mikroskop
Charakterisierung von supraleitenden Josephson-Cantilevern für Messungen im THz-Mikroskop
2017
Benedikt Hampel
Marco Tollkuhn
Jörgen Jungclaus
Michael Martens
Meinhard Schilling
Keywords:
Nuclear magnetic resonance
Optics
Engineering
Terahertz radiation
High-temperature superconductivity
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