BIST와 블록단위 완전연관 BISR 코드 생성 도구

SOC 개발에 내장 메모리의 테스트가 새로운 문제로 대두되고 있다. 메모리의 고장의 유무만을 판단하는 것을 떠나 고가의 메모리를 여분의 메모리로 재사용함 으로써 메모리의 효율성을 증가 시킬 수 있다. SoC 개발에서의 내장 메모리를 테스트하기 위해 가장 널리 사용되는 방법인 메모리 BIST(Built-In Self Test)와 메모리 BISR(Built-In Self Repair)을 기존에 사용했던 방법들의 단점을 보안하여, 사용자가 손쉽게 메모리 고장 여부를 판단하는 BIST 회로와 고장 유무 판단 후 고장난 메모리를 고장 없이 사용할 수 있도록 하는 BISR 회로를 자동으로 생성해주는 범용 GenTR(Generator of memory built-in-self-Test and built-in-self-Repair)를 개발하였다.