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Vergleichende SIMS- und AES-Tiefenprofil-Analysen an einem Ni/Cr-Vielschicht-System
Vergleichende SIMS- und AES-Tiefenprofil-Analysen an einem Ni/Cr-Vielschicht-System
1984
Hubert Gnaser
F. G. Rüdenauer
W. Steiger
G. Flentje
W. O. Hofer
U. Littmark
J. Giber
D. Marton
P. Braun
H. Störi
Keywords:
Analytical chemistry
Chemistry
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