Karpuzda Fusarium oxysporum f. sp. niveum’a tolerant nitelikli hatların geliştirilmesi

Fusarium oxysporum f. sp. niveum (Fon) karpuzda cok onemli verim kayiplarina sebeb olmasina ragmen patojenin 0 ve 1 irklarina dayanikli ticari cesitler gelistirilmis fakat 2 ve 3 numarali irklarina dayanikli ticari cesitler henuz bildirilmemistir. Fon’a hassas saf hat ile Fon’un 0, 1 ve 2 irklarina dayanikli olan PI296341 genitoru melezlenmistir. F1 hibritler hassas ebeveyne geriye melezlenmis ve GM1F1‘ler elde edilmistir. GM1F1, GM2F1, GM3F1 ve GM4F1’ler Fon 1 icin gelistirilen P-700 SCAR molekuler markirina ait primer ciftiyle taranmistir. Dayanikli markir bandi veren bireyler kendilenmis ve geriye melezlemeleri yapilmistir. Kendilenmis olan GM1F2, GM2F2, GM3F2 ve GM4F2’ler Fon 1’e karsi klasik testlenmistir. Klasik testlemede de dayanikliligi dogrulanan bireylerin geriye melezleri alinmistir. GMnF1 generasyonlarinda markir testlemesi ve GMnF2 generasyonlarinda klasik testleme yapilmistir. Sonuc olarak GM4F2’lerin Fusarium’un 0, 1 ve 2 numarali irklarina karsi klasik olarak testleme sonucunda irk 0 ‘a karsi 10 adet, irk 1 ‘e karsi 39 adet ve irk 2’ ye karsi 7 adet dayanikli bitki elde edilmistir.