BAM‐S005 Type A and B: New Silicate Reference Glasses for Microanalysis

To test whether the silicate reference glasses BAM-S005-A and BAM-S005-B from BAM (The Federal Institute for Materials Research and Testing, Germany) are suitable materials for microanalysis, we investigated the homogeneity of these reference glasses using the microanalytical techniques EPMA, LA-ICP-MS and SIMS. Our study indicated that all major and most trace elements are homogeneously distributed at micrometre sampling scale in both types of glass. However, some trace elements (e.g., Cs, Cl, Cr, Mo and Ni) seem to be inhomogeneously distributed. We also determined the composition of BAM-S005-A and BAM-S005-B. The EPMA data of major elements confirmed the information values specified by the certificate. With the exception of Sr, Ba, Ce and Pb, our trace element data by LA-ICP-MS were also in agreement with the certified values within the stated uncertainty limits. The reasons for the discrepancy in these four elements are still unclear. In addition, we report new data for twenty-two further trace elements, for which the concentrations were not certified. Based on our investigation, we suggest that both of these materials are suitable for many microanalytical applications. Afin de tester si les verres silicates de reference BAM-S005-A et BAM-S005-B provenant du BAM (Institut federal de recherche et d’essais sur les materiaux, Allemagne) sont des materiaux appropries pour la microanalyse, nous avons etudie l’homogeneite de ces verres de reference en utilisant les techniques de microanalyse EPMA, LA-ICP-MS et SIMS. Notre etude a revele que tous les elements majeurs et la plupart des elements traces sont repartis de facon homogene dans les deux types de verre a l’echelle micrometrique d’echantillonnage. Toutefois, certains elements traces (par exemple, Cs, Cl, Cr, Mo et Ni) semblent etre distribues de facon inhomogene. Nous avons egalement determine les compositions de BAM-S005-A et BAM-S005-B. Les donnees EPMA des elements majeurs ont confirme les valeurs specifiees par le certificat. A l’exception du Sr, Ba, Ce et Pb, nos donnees d’elements traces par LA-ICP-MS sont egalement en accord avec les valeurs certifiees dans les limites d’incertitude indiquees. Les raisons des ecarts observes pour ces quatre elements sont encore mal connues. En outre, nous presentons de nouvelles donnees pour vingt-deux elements traces supplementaires, pour lesquels les concentrations n’ont pas ete certifiees. Sur la base de notre etude, nous suggerons que ces deux materiaux sont adaptes pour de nombreuses applications de microanalyse.