ИССЛЕДОВАНИЕ ФОРМОИЗМЕНЕНИЯ ГАБИТУСА ПЕНТАГОНАЛЬНЫХ МИКРОКРИСТАЛЛОВ СЕРЕБРА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

В работе обсуждаются морфологические особенности строения микрокристаллов серебра с пентагональной симметрией, формирующихся в процессе электроосаждения при варьировании технологических параметров. Образцы были получены при различном химическом составе электролита, перенапряжении на катоде и времени осаждения. В работе также обосновано использование метода сканирующей электронной микроскопии для исследования особенностей формоизменения габитуса пентагональных микрокристаллов серебра электролитического происхождения. Также обсуждаются некоторые аспекты морфологии, выявленные различными методами сканирующей электронной микроскопией. Экспериментальные данные свидетельствуют в пользу гипотезы о том, что в процессе формирования грани, присущей додекаэдрической структуре, островок роста проходил через высокотемпературное состояние, которое спровоцировало перестройку атомной структуры. Представленные экспериментальные данные в случае электроосаждения в потенциостатическом режиме по зависимости выявляемых морфологических типов очень хорошо воспроизводятся, что позволяет однозначно определить методику их получения.