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歪みSi CMOSFETのスケーラビリティと40nmゲート長の高性能な歪みSi CMOSFET技術( IEDM特集:先端CMOSデバイス・プロセス技術)
歪みSi CMOSFETのスケーラビリティと40nmゲート長の高性能な歪みSi CMOSFET技術( IEDM特集:先端CMOSデバイス・プロセス技術)
2004
tomoya sanuki
syuu ooisi
yukio mori maturigoto
masasi aota
tomoko kinosita
ryouzi hasumi
youiti takekawa
wa aki isobe
hisao yosimura
masaaki iwai
kazumasa sunouti
tatuo noguti
Keywords:
Machine learning
Computer science
Artificial intelligence
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