Mô phỏng và thực nghiệm kiểm chứng tạo dữ liệu siêu âm cắt lớp

Chụp ảnh sieu âm cắt lớp la kỹ thuật co nhiều tiềm năng ứng dụng; sử dụng kĩ thuật tan xạ ngược nen co thể phat hiện được cac u co kich thước nhỏ hơn bước song. Tuy nhien do sử dụng kỹ thuật tan xạ ngược nen co độ phức tạp tinh toan rất lớn, la rao cản lớn để thương mại hoa thiết bị sử dụng cong nghệ nay. Hiển nhien la độ phức tạp sẽ tăng nếu như yeu cầu tạo ảnh co độ phân giải cao. Mục tieu của bai bao nay la so sanh dữ liệu thực nghiệm la tin hiệu ap suất tan xạ thu được tại cac đầu thu với kết quả mo phỏng với cac độ phân giải khac nhau, từ đo xac định được độ phân giải ảnh phu hợp (la khi kết quả mo phỏng va thực nghiệm la sat nhau), cho phep cải tiến hiệu năng tạo ảnh sieu âm cắt lớp.