X射线荧光光谱法同时测定电子电气产品中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴

提出了用X射线荧光光谱法同时测定电子电气设备中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴的一种新的测试方法。研究了金属材料基体、聚合物基体和不同电子产品等基体对待测元素的影响，研究了元素间谱线重叠所产生的光谱干扰，考察了样品大小不同和样品厚度不同对待测元素测试结果的影响，并选用Rh线的康普顿散射线作内标来校正这些非光谱干扰的影响。选用自制的参考物质制作工作曲线，各待测元素的浓度范围从最低测定下限100到1500mg·kg^-1，均获得非常好的线性关系。选用有证标准物质BCR-681，并设置100s测量时间来计算铅、汞、铬、镉和溴的最低检出限，其检出限分别为Pb Lβ0.64mg·kg^-1,Hg Lα0.51mg·kg^-1,Cr Kα0.78mg·kg^-1,Cd Kα1.10mg·kg^-1和Br Kα0.27mg·kg^-1。以BCR-681作为实际样品进行测试，其结果与标准推荐值非常吻合。