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205 放射光X線CT観察による半導体微細はんだ接続部のエレクトロマイグレーション現象の解明(OS2-2 オーガナイズドセッション《材料強度と構造設計》)
205 放射光X線CT観察による半導体微細はんだ接続部のエレクトロマイグレーション現象の解明(OS2-2 オーガナイズドセッション《材料強度と構造設計》)
2012
Yu Harubeppu
Hisashi Tanie
Shinichi Fujiwara
Nobuhiko Chiwata
Masaru Fujiyoshi
Hiroshi Shintani
Keywords:
Electromigration
Materials science
X-ray microtomography
Metallurgy
Composite material
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