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ディープトレンチアイソレーションプロセスによる600V級,逆阻止IGBT(TI‐RB‐IGBT)に対する超小型アイソレーション面積
ディープトレンチアイソレーションプロセスによる600V級,逆阻止IGBT(TI‐RB‐IGBT)に対する超小型アイソレーション面積
2004
Tokuda N
Kaneda M
Minato T
Keywords:
Electronic engineering
Materials science
Insulated-gate bipolar transistor
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