자체 트리밍 방식을 이용한 MCU 오실레이터의 테스트

본 논문에서는 자체 트리밍 방식을 이용하여 8-비트 마이크로콘트롤러 IC (MCU)에 내장된 오실레이터의 테스트 방법을 제안한다. MCU 내부에 오실레이터 레지스터를 내장하고 이의 값을 트리밍 함으로써 일정 오차 범위 내의 정확한 주파수의 생성 여부를 확인하는 단순 테스트 방법을 제안한다. 또한 MCU 내장 프로그램을 이용하여 MCU 오실레이터를 병렬로 자체 트리밍 할 수 있는 고속 병렬 테스트 방법을 추가적으로 제안한다. 테스터 T6371로 3,000개의 칩의 오실레이터에 대해 테스트한 결과, 오실레이터의 주파수 편차는 약 0.35%로 규격 범위 안에 있고, 샷 당(16개 칩) 1.6sec의 테스트 시간이 소요되었다. 또한, 병렬 테스트 방식은 단순 테스트 방식에 비해 오실레이터 테스트 경우에는 8배, 테스트 전체 항목에 대한 테스트 경우에는 약 30% 테스팅 시간단축이 되었다.