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Acemap > Paper > 28aB35P 新型半導体X線計測器を用いた電子サイクロトロン加熱時の電子温度と電子閉じ込め電位の相関の研究(計測)

28aB35P 新型半導体X線計測器を用いた電子サイクロトロン加熱時の電子温度と電子閉じ込め電位の相関の研究(計測)

2003 
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