Procedes et systemes pour le stockage classifie de defauts detectes sur un echantillon

La presente invention concerne des procedes et des systemes pour le stockage classifie de defauts detectes sur un echantillon. Un procede comprend la comparaison d'une image test a des images de reference. L'image test comporte une image d'un ou de plusieurs elements imprimes formes sur l'echantillon a proximite d'un defaut detecte sur l'echantillon. Les images de reference comportent des images un ou des elements imprimes associes a differentes regions d'interet dans un dispositif en cours de formation sur l'echantillon. Si ledit un ou lesdits plusieurs elements imprimes de l'image test correspondent au dit un ou aux dits plusieurs elements imprimes d'une des images de reference, le procede comprend l'affectation du defaut a une case correspondant a la region d'interet associee a l'image de reference.