Röntgenmikroskopische Untersuchungen magnetischer Strukturen in Hochtemperatursupraleitern

Das Thema dieser Arbeit ist die Charakterisierung von magnetischen Strukturen in Hoch- temperatursupraleitern mittels Rontgenmikroskopie. Hierfur wurde mittels Magnetooptik, Proben charakterisiert um eine Basis fur vergleichende Messungen mittels Rontgenmikro- skopie zu haben. Beide Methoden beruhen auf der Magnetisierung einer Sensorschicht durch das Streufeld des Supraleiters. Die Starke des Streufeldes eines Supraleiters steigt mit sinkender Temperatur weshalb ein neuartiger Heliumkryostat fur das bestehende Rontgenmikroskop MAXYMUS am Syn- chrotron Bessy II in Berlin, konstruiert und in Betrieb genommen wurde. Es wurden zwei unterschiedliche ferromagnetische Schichten als Sensor verwendet. Diese wurden di- rekt auf dunne Schichten des Hochtemperatur-Supraleiters YBCO (YBa2Cu3O7-δ ) aufge- sputtert. Es wurde eine Zwischenschicht zur Unterdruckung von Wechselwirkungen mit aufgebracht. Der oberflachensensitive TEY-Modus kann nur bedingt bei tiefen Tempe- raturen eingesetzt werden. Grund hierfur ist die Bildung einer Eisschicht auf der Probe und damit eine Reduzierung des Signals. Zur Losung wurden rontgentransparente Proben hergestellt fur die Messung in Transmission. Die Prozessschritte hin zur Praparation von rontgentransparenten, epitaktischen Filmen auf einkristallinen Substraten ist neuartig und eine Erweiterung dieser Methodik zur Abbildung magnetische Strukturen von Supraleitern in hochster magnetischer- und Ortsauflosung. Diese Erweiterungen sollen diese Methode weiter voranbringen und neue Einblicke in das Verankerungsverhalten des magnetischen Flusses und zukunftig einzelner Flusslinien liefern. Der Vorteil dieser Methode liegt dar- in, dass anwendungsnahe Proben verwendet werden konnen, sowie die direkte Korrelation des magnetischen Flusses mit der Oberflachenstruktur. Es konnte eine neue Methode zur Praparation von rontgentransparenten Proben gezeigt werden.