Méthodes de mesure et étude diélectrique de céramiques à couches d'arrêt à base de SrTiO3 (20 Hz - 15 GHz)

L'etude de l'evolution de la permittivite en fonction de la frequence et de la temperature est realisee sur des ceramiques a forte permittivite: des ceramiques a couches d'arret a base de srtio#3 et des ceramiques ferroelectriques de ktn. Plusieurs methodes de mesure des permittivites ont permis de faire des mesures entre 20 hz et 15 ghz. Une nouvelle methode de mesure a partir des resonances dielectriques d'un echantillon en forme de pastille est developpee. Les precisions et les conditions d'application sont caracterisees a partir d'echantillons de references. Des ceramiques a base de srtio#3 semi-conducteur impregnees d'oxydes isolants ont ete realisees. Les ceramiques presentent une relaxation de charges d'espace et une conductivite alternative (conductivite proportionnelle a la frequence elevee a la puissance n). Les parametres dielectriques de la relaxation et l'exposant n sont lies a la microstructure de la ceramique. Deux relaxations dielectriques sont mises en evidence sur des ceramiques de ktn de composition k(nb#0#. #4ta#0#. #6)o#3 (relaxation de la structure perovskite et relaxation de charges d'espace)