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65nmバルクとThin BOX FD-SOIプロセスにおける冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
65nmバルクとThin BOX FD-SOIプロセスにおける冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
2015
ei ni sonezaki
kan nin kubota
masamoto masuda
syouhei kanda
jun furuta
kazutosi kobayasi
Keywords:
Computer science
Electronic engineering
Soft error
heavy ion
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