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J012012 回路基板のスルーホール周りの疲労強度([J012-01]電子情報機器、電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(1))
J012012 回路基板のスルーホール周りの疲労強度([J012-01]電子情報機器、電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(1))
2013
takahiro kinosita
suu kawakami
hideki mizusina
hirosi mesi tyou
Keywords:
Stress concentration
Fatigue limit
Ceramic materials
Composite material
Materials science
Finite element method
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