Old Web
English
Sign In
Acemap
>
Paper
>
Etude par TEM et DRX des défauts cristallins dans des couches épitaxiées par MBE de GaP sur Silicium (001)
Etude par TEM et DRX des défauts cristallins dans des couches épitaxiées par MBE de GaP sur Silicium (001)
2013
Julien Stodolna
F. Demangeot
Anne Ponchet
Nicolas Bertru
Olivier Durand
Charles Cornet
Jithesh Kuyyalil
Alain Le Corre
Antoine Létoublon
Thanh Tra Nguyen
Yanping Wang
Nathalie Boudet
Correction
Source
Cite
Save
Machine Reading By IdeaReader
0
References
0
Citations
NaN
KQI
[]