Système ellipsométrique infrarouge térahertz, et son procédé d'utilisation

La presente invention porte sur des systemes ellipsometriques et polarimetriques, et plus particulierement sur un systeme ellipsometrique ou polarimetrique ou analogue, qui fonctionne sur une gamme de frequences comprise entre 300 GHZ ou moins, et s'etend jusqu'a une valeur superieure a au moins 1 terahertz (THz), de preference en passant dans la gamme des infrarouges (IR) jusqu'a 100 THz et au-dela, comprenant : une source telle qu'un oscillateur a ondes regressives (BWO); une cellule de Smith-Purcell (SP); un laser a electrons libres (FE) ou une source IRTF et un dispositif a semi-conducteurs; et un detecteur tel qu'une cellule de Golay (GC); un bolometre (BOL) ou un detecteur a semi-conducteurs; et comprenant de preference au moins un systeme de rotation d'image et d'etat de polarisation a rebond impair (OBIRS), et comprenant facultativement un polariseur (P), au moins un compensateur (C) et/ou un modulateur (MOD), en plus d'un analyseur (A).