年轻成人安氏I类错『牙合』亚型的X线头影测量分析

目的：分析年轻成人安氏I类错『牙合』亚型特征。方法：选取101例安氏I类错糟年轻成年患者，拍摄颅颌定位X线片。用头影测量“优选法”的17项测量指标，按水平方向和垂直方向进行聚类分析，并与正常人群进行比较。结果：测量指标按水平方向可聚类为3个亚类，即水平I类、II类和Ⅲ类，所占比例分别为I7．8％、12．9％和65．3％。水平I类特征：上颌略偏缩、下颌后缩，Ⅱ类错糟趋势，上下中切牙唇倾；水平II类特征：上颌前凸、下颌后缩，上下中切牙舌倾，上下唇相对于上下切牙突度大；水平III类特征：上颌前凸、下颌后缩，上下中切牙唇倾，上下唇相对于上下切牙突度大。按垂直方向聚为I类，特征是垂直方向发育不足，尤其是面下1／3为著，下颌呈后旋趋势，上下唇突。结论：年轻成人安氏I类错日林平方向分为3个亚类、垂直方向为I类。总体趋势是下颌后缩、面下1／3发育不足，但上颌骨、上下前牙和唇位等方面仍有一定的差异，临床应针对性诊治。