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LCD 결함 검출 성능 개선을 위한 대표점 기반의 영역 탐색을 이용한 적응적 이진화 기법
LCD 결함 검출 성능 개선을 위한 대표점 기반의 영역 탐색을 이용한 적응적 이진화 기법
2016
Jin-Uk Kim
Ko Yun-Ho
Si-Woong Lee
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