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懸濁ゲルマニウム膜における歪集中のための局所化細線化と精密厚さ測定のための光学的方法【JST・京大機械翻訳】
懸濁ゲルマニウム膜における歪集中のための局所化細線化と精密厚さ測定のための光学的方法【JST・京大機械翻訳】
2018
Pablo O. Vaccaro
M. I. Alonso
Miquel Garriga
José María Gutiérrez
D. Pero
Markus R. Wagner
Juan Sebastian Reparaz
C. M. Sotomayor Torres
Xavier Vidal
Elizabeth A. Carter
Peter A. Lay
Masahiro Yoshimoto
Alejandro R. Goñi
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