基于TTCN-3的TD-LTE非接入层测试研究

主要在介绍TD-LTE非接入层协议和TTCN-3标准的基础上，对TD-LTE终端测试中E—UTRAN／SAE的系统架构和非接入层的测试模型进行分析，并使用TTCN-3对非接入层进行一致性测试，并以EMM实体为例进行了验证。证明了该方法能够有效实现EMM实体协议的一致性测试。