Ba0.98Bi0.02(Ti0.9Zr0.1) 1-xCuxO3陶瓷的介电性能、弛豫行为与结晶化学特性

2013 
采用固相合成法,Bi^3+作施主掺杂A位,Cu^2+作受主掺杂B位,制备了Ba0.98Bi0.02(Ti0.9Zr0.1) 1-xCuxO3(x=0,0.01,0.02,0.03)陶瓷样品。借助XRD、LCR等研究了该陶瓷的结构与介电性能。结果表明:当x=0.03时,陶瓷样品出现第二相。通过GULP模拟,缺陷偶极子的稳定性从低到高依次为:[2BiRa+VBa]、[2BiBa+CuTi/Zr]、[CuTi/Zr+Vo],结合实验可知:介电弛豫程度与晶体中缺陷偶极子的存在形式相关,其中x=0.01时,晶体中以[2BiBa+CuTi/Zr]为主。随Cu^2+掺杂量的增加,介电常数增加,介电常数与B位键价和呈反比变化、与八面体BO6的体积呈正比变化。
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