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先端バルクCMOS技術デバイスにおけるNMOS寄生トランジスタへの全電離線量放射線効果【Powered by NICT】
先端バルクCMOS技術デバイスにおけるNMOS寄生トランジスタへの全電離線量放射線効果【Powered by NICT】
2016
He Baoping
Wang Zujun
Sheng Jiangkun
Huang Shaoyan
Keywords:
Electronic engineering
Electrical engineering
Engineering
Systems engineering
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