Fe/ZnO（0001）体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究

利用同步辐射光电子能谱（SRPES）和X射线光电子能谱（XPS）技术,系统研究了室温下Fe/ZnO界面形成过程中Fe薄膜与氧结尾的ZnO（0001）衬底之间的相互作用,结果显示初始沉积的Fe明显被表面氧氧化为Fe2＋离子,在Fe覆盖度为0—3nm的范围内,分别观察到与界面电荷传输、化学反应以及薄膜磁性相关的三个有意义的临界厚度,这一结果将有助于基于Fe/ZnO界面的相关器件的设计和研发.