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SIMS-Untersuchung der Qualität von pn-Übergängen in ionenimplantiertem und cw-laserausgeheiltem Silicium
SIMS-Untersuchung der Qualität von pn-Übergängen in ionenimplantiertem und cw-laserausgeheiltem Silicium
1983
M. Maier
D. Bimberg
G. Fernholz
Helmut Baumgart
F. Phillipp
Keywords:
Analytical chemistry
Chemistry
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