基因芯片分型中荧光标记引物的多重扩增及试验优化

基因芯片技术以其平行高效多位点多态性分型的优势,在基础和临床研究中被广泛应用.然而,随着位点增多,扩增目的片段更繁琐,为了提高效率和降低成本,就需要在同一反应体系内进行多重扩增[1].而多重扩增的关键问题是,同一体系内引物对的最大化,并有效减少非特异扩增.目前,此环节可通过计算机辅助设计和尝试不同引物对组合解决。