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プロセス変動に対する感度を含むスケール3ゲートInGaAs OIn‐MOSFETのためのDIBL特性の理論的研究【Powered by NICT】
プロセス変動に対する感度を含むスケール3ゲートInGaAs OIn‐MOSFETのためのDIBL特性の理論的研究【Powered by NICT】
2017
Wu Shu-hua
Yu-Chien Lin
Yu-Chang Hung
Su Pin
Keywords:
Electronic engineering
Physics
Electrical engineering
Optoelectronics
Engineering physics
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