68 加速器质谱测量^182Hf样品中W、Ta的化学分离

^182Hf在待测样品中的含量一般很低。加速器质谱（AMS）是实现其高灵敏测量的有效方法，因AMS是一种相对测量方法，需要制备标准样品。W、Ta严重干扰^182Hf的AMS测量，可采用阴离子交换法消除标准样品制备过程中W、Ta的干扰。具体方法如下。